tristar ii 3020是全自动三站式比表面积和孔隙度分析仪，能够提高质量控制分析的检测速度，并提供高精度、高分辨率和数据处理功能以满足绝大多数研发的需要。

仪器用途

tristar ii3020分析仪可以进行材料比表面、孔径分布、孔体积等的测试（吸附质-液n₂）。其中tristar ii 3020分析范围：材料比表面积 0.01m2/g至无上限，孔径分析范围1.0-300 nm。可测全吸附、脱附曲线、bet及 langmuir比表面积、平均孔径和孔体积、bjh吸附/脱附曲线，中孔和大孔信息、中孔和大孔体积/面积对孔径分布。适用于各种材料的研究与产品测试，包括测量沸石，碳材料，分子筛，二氧化硅，氧化铝，土壤，黏土，有机金属化合物骨架结构等各种材料，其中材料比表面积与孔分布的测试大量应用于分子筛、活性炭等催化材料的表面物理性能研究，广泛应用于催化、环境、建筑领域。

技术特点

· 仪器可同时进行三个样品的分析，满足测试量大的用户，不是多个工作站的"排队分析"，每个分析站都配有独立的传感器，保证三个分析站分析的同时进行

· 配备了大容量杜瓦瓶，结合专利的液氮等温夹，保证至少60小时无人介入操作。无上限的连续分析

· 仪器软件包含了目前所有的数据处理方法: 单点和多点bet比表面积，langmuir比表面积 ，temkin and freundlich等温线分析

多种厚度层公示计算的bjh中孔和大孔的孔体积、孔面积对孔径的分布，孔体积和用户指定孔径范围内的总孔体积 mp法的微孔孔径分布和t-plots、αs-plots得到的微孔总孔体积，f-ratio plots，d-r，d-a，h-k法(包括cheng & yang校正，saito & foley校正)，dft密度函数理论，包括nldft等。